Paint layers reflectance measurements through image processing techniques.

1. Verfasser: Alexopoulou, Athina
Weitere Verfasser: Chryssoulakis, Yannis
Chassery, Jean-Marc
Ort/Verlag/Jahr: 1995.
Umfang/Format: 41-46 : Abb.
Schlagworte:
Enthalten in: PACT, 45 (1995)
Keine Informationen zu Zugangsbeschränkungen