The application of time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) to the characterization of opaque ancient glasses.
| 1. Verfasser: |
Rutten, F. J. M.
|
|---|---|
| Weitere Verfasser: |
Henderson, J.
Briggs, D. |
| Ort/Verlag/Jahr: |
2009.
|
| Umfang/Format: |
966-986 : Abb. |
| Schlagworte: | |
| iDAI.gazetteer: |
Mesopotamien Italia |
| Enthalten in: | Archaeometry, 51,6 (2009) |
| Keine Informationen zu Zugangsbeschränkungen |
